使用4端子法測量導電性材料的體積電阻率和表面電阻率 ...

本節介紹多種量測半導體電阻率的方法，目前較為常用的. 僅有：四點式探測(four-point probe)、擴展電阻探測(spreading resistance probe)以及非接觸式渦電流...

測量單位為體積電阻率、表面電阻率和電導率。也可以作為參考值來選擇電阻值。 •從輸入的測試樣品的尺寸和座標，還能顯示所計算補償係數。

一種量測材料電阻值的儀器，可適用於電機、電子、光電、化工、材料等研究領域。毫歐表的基本原理乃根據歐姆定律。主要量測於連接器、電阻、電池、開關。

假如該薄膜材料進而被做成一條等寬的電子電. 路，我們還可從電阻量測推知該電路的寬度。在電子工業中所使用的電子材. 料，從電阻係數、薄膜厚度、到電路寬度都 ...

... 網印刷到薄膜混合微電路基底上的電阻。薄膜電阻的概念與電阻或者電阻率相對，可直接用四端點測量技術測量法（也稱為四點探針測量法）或范德堡法來測量。