X射線螢光光譜儀- 維基百科，自由的百科全書

X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。

X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X ... X射線螢光光譜儀 維基百科，自由的百科全書 跳至導覽 跳至搜尋 水泥廠品質控制實驗室中的飛利浦PW1606X射線螢光光譜儀，帶有樣品自動化樣品進料 X射線螢光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。

X射線螢光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線撞擊材料時激發出的次級X射線。

這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品[1]，例如油畫[2]和壁畫。

目次 1使用型態 2X射線螢光的物理原理 3X射線螢光光譜法在化學分析 4參閱 5參考資料 使用型態[編輯] XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出後，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特徵X光；不同的元素會放射出各自的特徵X光，具有不同的能量或波長特性。

檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。

這一現象廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。

X射線螢光的物理原理[編輯] 當材料暴露在短波長X光檢查，或伽瑪射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會「回補」進入低軌道，以填補遺留下來的洞。

在「回補」的過程會釋出多餘的能源，光子能量是等於兩個軌道的能量差異的。

因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。

X射線螢光光譜法在化學分析[編輯] 主要使用X射線束激發螢光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的[3]。

到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程控制的工具，廣泛應用於採掘和加工工業。

原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。

參閱[編輯] 發射光譜 梅斯堡效應，γ射線的共振螢光 參考資料[編輯] ^DeViguerieL,SoleVA,WalterP,MultilayersquantitativeX-rayfluorescenceanalysisappliedtoeaselpaintings（頁面存檔備份，存於網際網路檔案館）,AnalBioanalChem.2009Dec;395(7):2015-20.doi:10.1007/s00216-009-2997-0 ^X-RayFluorescenceatColourLex.[2016-09-25].（原始內容存檔於2015-12-22）.  ^Glocker,R.,andSchreiber,H.,AnnalenderPhysik.,85,(1928),p.1089 取自「https://zh.wikipedia.org/w/index.php?title=X射线荧光光谱仪&oldid=64208910」 分類：原子物理學分子物理學光譜學X射線科學技術 導覽選單 個人工具 沒有登入討論貢獻建立帳號登入 命名空間 條目討論 臺灣正體 已展開 已摺疊 不转换简体繁體大陆简体香港繁體澳門繁體大马简体新加坡简体臺灣正體 查看 閱讀編輯檢視歷史 更多 已展開 已摺疊 搜尋 導航 首頁分類索引特色內容新聞動態近期變更隨機條目資助維基百科 說明 說明維基社群方針與指引互助客棧知識問答字詞轉換IRC即時聊天聯絡我們關於維基百科 工具 連結至此的頁面相關變更上傳檔案特殊頁面靜態連結頁面資訊引用此頁面維基數據項目 列印/匯出 下載為PDF可列印版 其他語言 العربيةČeštinaDeutschEnglishEspañolEestiفارسیFrançaisעבריתHrvatskiBahasaIndonesiaItaliano日本語LietuviųNederlandsNorskbokmålPortuguêsРусскийTürkçeУкраїнська 編輯連結