外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统:原理_价格_参数_ ...

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本仪器为外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈．为高效高质量生产提供可靠保证。

本成像仪现已成功应用于多条LED外延片生产线上。

逐点扫描检测计算机分析计算外延片的积分光强，主波长，峰值波长，光谱半宽等参数以绘图形式显示分布和数据截面分布囤，显示单点光谱显示各个参数的统计结果显示选择范围的各项统计参数可进行局部扫描，并对扫描结果进行去孤立点和去边处理采用白光反射谱测量薄膜厚度并以绘图形式显示分布和数据配备离线数据处理软件本成像仪可靠。

结构紧凑。

全部检测和数据处理由计算机自动完成。

采用用户友好的窗口界面，操作简便。

用户仅需zei小的培训就可使用。

另外可根据不同外延片，选配不同的激光器。

技术参数：1、光致发光样品腔10xM-Plan镜头颜色修正，波长范围：350-1800nm工作距离：30.5mm,20mmFL,z轴可调系统空间分辨率：10微米(1微米选配)镜子带孔洞作为激光束及PL信号的通道Iris光圈用于激光束的调整可变ND过滤器用于激光能量的控制(99%to2%)10毫米孔洞PL信号校准镜头马达控制的XY台，zei大速度30毫米/秒，1微米扫描分辨率2&4外延晶片样品盘包括高分辨控制器和电缆2、IG512近红外光谱仪，900-1700nm,512像素,InGaAs阵列25umx500um像素尺寸，14bits,2.5MHz数字转换器,f/4,40mmFL探测范围：900nm全谱，300gr/mm,1umblazegrating包括SMA905,400um多模光纤，1米长3、EPP2000-VIS(350-1150nm)用于紫外-可见光，衍射光栅光谱仪f/4,symX-Czerny-turner类型分辨率：1.6nm(50um狭缝，@600gr/mmgrating)包括2048像素CCD探测器，12bit数字转换器600gr/mmgrating接口：USB-2&平行SMA905光纤光学输入，0.22NA，400um多模光纤，1米长主要特点：仪器特点高品质及中等价位的PL扫描系统(高性价比)；波长范围宽广(UV-VIS-NIR,350nmto2.2um)；噪声低，高PL信号探测；设计紧凑，易于调谐；各种激发激光源可选；易于发现峰及FWHM； 外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统信息由瞬渺科技（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于外延片PL谱扫描成像仪PL/PLE光致发光谱测量系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途 请用手机扫描二维码 请扫描二维码查看详细参数 分析测试百科网| 快捷面板| 站点地图| 律师声明| 关于我们| AboutUs| 广告服务| 改善您的体验| 友情链接| 联系我们 移动版： 资讯 Webinar 仪器谱 Copyright©2007-2021ANTPEDIA,AllRightsReserved 京ICP备07018254号京公网安备1101085018电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号