ICP-OES和ICP-MS檢測極限指導| EAG實驗室

EAG實驗室的ICP-OES和ICP-MS檢測限制指南基於這些有價值技術的優勢和局限性。

... 基於電感耦合等離子體（ICP）的分析技術 可以定量測量材料的大量元素組成。

資源 應用筆記 ICP-OES和ICP-MS檢測極限指導 問EAG 問EAG ICP-OES和ICP-MS檢測極限指導應用筆記 這些ICP-OES和ICP-MS檢測限是理論上最好的情況，假設沒有光譜干擾影響給定元素的最佳同位素或波長。

對於任何給定的確定，實際方法檢測限度可以是更高或更高的數量級。

使用此作為指導，而不是絕對信息。

基於電感耦合等離子體（ICP）的分析技術可以定量測量材料的大量元素組成。

In等離子體發射光譜（OES）將樣品溶液引入感應耦合氬氣等離子體（ICP）的芯中，該等離子體產生的溫度約為9,000K。

在這些溫度下，分析物原子和離子被熱激發並以其特徵波長發光。

這個燈 光束聚焦在光譜儀的入口狹縫上，並穿過衍射光柵，該光柵將光分解成其組成波長的光譜。

然後在光譜儀內，通過波長分離並收集該衍射光，並放大以產生強度測量值，該強度測量值可以通過與校準標准進行比較而轉換為元素濃度。

In等離子體質譜（MS）電感耦合氬等離子體（ICP）再次成為高溫源，並與四極質量分析儀耦合。

然而，與OES相反，ICP-MS中的等離子體用於產生加速到四極質量分析器中的離子。

然後根據它們的質荷比分離和收集離子。

然後可以識別和測量未知樣品的成分。

ICP-MS對各種元素具有極高的靈敏度。

我們的強項 批量化學分析技術，可以在單個樣品分析中同時確定最多70元素。

線性動態範圍超過幾個數量級。

儀器適用於自動化，從而提高準確性，精度和吞吐量。

限制 如果感興趣元素的波長非常接近另一元素的波長，則發射光譜是複雜的並且元素間干擾是可能的。

在質譜分析中，某些元素的測定和定量可能受到多原子種類，基質元素和大氣元素的干擾的影響。

待分析的樣品必須在分析之前完全消化或溶解，以確定感興趣的元素。

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