《博世BMF055:9軸運動傳感器+傳感器中樞》
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BOSCH Sensortec BMF055: Cortex M0+ 9-Axis Sensor Hub in SiP
——逆向分析報告
像其競爭對手InvenSense一樣,Bosch Sensortec也推出了一款可編程9軸運動傳感器BMF055,可以根據特殊應用(如機器人、遊戲、物聯網設備)進行定製化編程。
BMF055是博世新款9軸運動傳感器(16位數字輸出3軸陀螺儀+14位數字輸出3軸加速度計+3軸磁力計),通過系統級封裝(SiP)集成32位ARM Cortex M0+內核MCU。
相比單獨的傳感器中樞,BMF055減少封裝成本,且有助於減小系統級功耗。
博世BMF055封裝
BMF055極為適合用戶對於開發先進應用特定型傳感器融合算法、增添複雜運動感測功能,以及以單一封裝替代多個分立元器件的需求。
此裝置的目標市場涵蓋機器人、遊戲、遙控器、導航系統、無人機,以及用於物聯網項目的人機接口設備。
Bosch Sensortec的應用特定型ASSN(傳感器節點)系列的全新傳感器將加速度計、陀螺儀、磁力計與Atmel的SAMD20微控制器系列的Cortex M0+處理器相結合。
在緊湊的5.2 x 3.8 x 1.1 mm單獨封裝中,這一裝置通過「一站式」解決方案提供高級別功能,令客戶可以更加簡便地進行集成。
Bosch Sensortec為BMF055提供了一款軟體開發包,其中包含一個帶有集成指南的預編譯BSX Lite融合庫、用於單獨傳感器的API源文件,以及作為Atmel Studio插件的示例項目。
Atmel工具鏈可於Atmel網站下載。
此軟體開發包將令客戶能夠簡便地為BMF055傳感器開發自主應用特定型固件,而無需額外的應用處理器。
本報告介紹對BMF055進行詳細的結構、工藝、材料和成本分析。
BMF055內部MEMS晶片及梳齒結構
報告目錄:
Overview / Introduction
Bosch Company Profile
Physical analysis
- Physical analysis methodology
• Package
- Package characteristics: view, dimensions, and opening
- Package cross-section
• ASIC Dies
- View, dimensions, and markings
- Delayering and main blocks ID
- Cross-section
- Process characteristics
• MEMS Dies
- View, dimensions, and markings
- Bond pad opening and bond pad
- MEMS cap removed and details
- Sensing area details
- MEMS cross-section
- MEMS process characteristics
• MCU Die
- View, dimensions, and markings
- Delayering and main blocks ID
- Process and die cross-section
- Die process characteristics
• Magnetometer Die
- View, dimensions, and markings
- Hall sensor and fluxgate sensor
- Delayering and main blocks ID
- Process and die cross-section
- Die process characteristics
Manufacturing Process Flow
• Global overview
• ASIC front-end process
• MEMS process flow
• Magnetometer process flow
• ASIC, MEMS, and MCU wafer fabrication unit
• Packaging process flow and assembly unit
Cost Analysis
• Main steps of economic analysis
• Yields hypotheses
• ASIC & MCU front-end cost
• ASIC & MCU back-end 0: probe test and dicing
• ASIC & MCU wafer & die cost
• MEMS front-end cost
• MEMS front-end cost per process steps
• MEMS back-end 0: probe test and dicing
• MEMS wafer and die cost
• Magnetometer CMOS front-end cost
• Magnetometer sensor cost
• Magnetometer sensor cost per process steps
• Magnetometer back-end 0: probe test and dicing
• Magnetometer wafer and die cost
• Back-end: packaging cost
• Back-end: packaging cost per process steps
• Back-end: final test cost
• Component cost and price
Cost & price comparison with InvenSense ICM-30630 6-Axis Sensor Hub
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